在半導體產業中，大多會對晶圓或是封裝後晶片進行熱變形的實驗及驗證，針對其變形量及應變的功能分析，以確保成品品質。而在實際產品驗證上，例如電腦工作時產生熱量，使CPU、記憶體等，因晶片與PCB間膨脹程度的不同，造成硬體的失效。GOM ARAMIS 3D 動態與應變量測系統除了Out of plane、Warpage分析外，同時兼具了In plane方向的量測與應變分析功能，並且在各種關於高度段差、階高設計的樣品上同樣可以進行量測，集所有能力於一身。
使用DIC為半導體產業提供全面性檢驗 Read More »
RATC PLASTIC KNOWLEDGE DAY 塑膠件全尺寸檢測怎麼做？從 GD&T 到 3D
塑膠件全尺寸檢測怎麼做？從 GD&T 到 3D 掃描建立量產品質判斷基準 Read More »
塑膠件常見的縮水、翹曲與尺寸偏差，若只靠局部量測與經驗修模，容易拉長 T1、T2、T3 試模循環。本文將說明如何透過 3D 掃描、CAD 比對與偏差色階圖，找出變形趨勢，並將量測數據回饋至模具反補正流程。
塑膠模具試模為什麼總是修不完？ZEISS 3D 掃描與反補正縮短開發週期 Read More »
COMPUTEX 2026 聚焦 AI Together，從 AI 運算、機器人、智慧移動到次世代科技，展現台灣科技製造業在全球供應鏈中的關鍵位置。馬路科技從 ZEISS、FARO 量測設備、3D 掃描、逆向工程與工業級 3D 列印角度，解析 AI 硬體背後的製造、檢測與工程驗證趨勢。
馬路科技帶你看 COMPUTEX 2026 重點： AI 硬體背後的量測與工程趨勢 Read More »
AI Server 硬體產業正快速發展，機構件設計也朝向更高密度、更複雜、更精密的方向演進。對製造商而言，如何在打樣、試產與量產過程中快速掌握尺寸偏差、組裝問題與品質風險，將成為提升競爭力的重要關鍵。
FARO Arm／FARO ScanArm 移動式三維量測設備，能以可攜式、高機動性與現場量測優勢，協助 AI Server 供應鏈提升大型零組件檢測效率，縮短問題判斷時間，並建立更完整的數據化品質管理流程。
AI Server 量測應用，FARO 移動式三維量測提升大型零組件檢測效率（下） Read More »
FARO Arm 多關節式三次元量測設備具備可攜式與高機動性的特色，可依照檢測需求移動至加工現場、產線旁、組裝區或品保區進行即時檢測。
對 AI Server 機構件製造商而言，這項特色的關鍵價值在於：量測設備可以跟著工件走，而不是每次都必須讓大型工件配合量測設備移動。
當檢測對象是大型機箱、GPU Tray、水冷分歧管、支架、鈑金件或組裝後的結構件時，工程人員可將 FARO 手持式三維量測設備架設在現場，直接針對工件進行尺寸檢查、幾何量測與 CAD 比對，減少大型工件搬運與等待檢測的時間。
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