Technews

3D檢測技術縮短筆記本電腦的開發效率

現今3C產品講求高效及便利,尤其在筆記型電腦上,更是越輕薄、短小,因此在機構設計上難度也隨之提高,從螺絲鎖付到全卡扣設計,以及克服變形問題等。開發難度的提高,更需要高效的檢測手法來解決筆記型電腦所面臨的開發問題點。

使用DIC為半導體產業提供全面性檢驗

在半導體產業中,大多會對晶圓或是封裝後晶片進行熱變形的實驗及驗證,針對其變形量及應變的功能分析,以確保成品品質。而在實際產品驗證上,例如電腦工作時產生熱量,使CPU、記憶體等,因晶片與PCB間膨脹程度的不同,造成硬體的失效。GOM ARAMIS 3D 動態與應變量測系統除了Out of plane、Warpage分析外,同時兼具了In plane方向的量測與應變分析功能,並且在各種關於高度段差、階高設計的樣品上同樣可以進行量測,集所有能力於一身。

淺談計量型 CT ( Metrology CT) 對光學零件與模組帶來的改變

隨著5G世代的降臨,光學產業是個不可或缺的角色。

以消費電子來說,隨著手機使用需求越來越高,攝像鏡頭的成像品質也越高,其鏡頭模組堆疊的層數也越發多層,在進行疊合時準度就是一大要件。而鏡頭模組也適用在車載鏡頭,尤其為了安全性及耐高溫的特性,車用鏡頭多採為塑膠及玻璃鏡片混合,鏡片厚度、配合間隙、鏡片間距即是鏡頭模組中成敗的關鍵。

一次看透檢測盲點.工業電腦斷層檢測應用

一般光學檢測設備大多採用光照射物件表面,透過光線的反射原理來達到外觀尺寸的量測,
但許多隱藏在內部的特徵往往無法準確進行量測。
而 CT 工業電腦斷層檢測系統,可穿透物體表面看見內部缺陷,由外到內都一目瞭然,
更能批次批量進行檢測,大幅提高效率。

Alicona垂直焦點探測技術

迄今為止,在汽車工業中例如噴射閥的孔之類的幾何形狀,很難使用光學方法量測有垂直表面的物件,若有橫向探測的需求就僅限於接觸式量測系統、CT解決方案或複雜的定制解決方案。隨著“垂直焦點探測”(焦點變化技術的擴展)而改變,可以在整個表面上進行光學探測。

Alicona焦點變化的比較

每當需要檢查表面質量和微觀幾何特徵時,高分辨率的精確測量解決方案都是必要的。 與替代光學技術相比,Focus-Variation縮小了典型3D坐標測量技術與經典表面計量設備之間的差距。

隱形眼鏡於Alicona的檢測應用

從無近視到有近視、從年輕人到老年人都是隱形眼鏡的消費族群,光是亞太市場一年就有近200億的龐大商機。但隱形眼鏡的製造,真的那麼容易嗎?隱形眼鏡的規格除了度數之外,還有弧度、直徑等標示,以上都是消費者要戴的舒適及安全的考量因素。

回到頂端

索取完整文章

親愛的客戶您好,此文章為限定閱讀
煩請填寫表單已獲取完整文章,我們將指派專員於1~3個工作天為您寄送相關資訊到您所填寫的信箱

十分感謝您的配合,馬路科技祝您順心