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AI 晶片供應鏈的尺寸檢測如何跟上?從探針卡到精密零件,看 OMM AI影像量測應用

PCB 微型鑽針品質不只看直徑,更需掌握刃口 R 角、前後角、崩刃、退屑槽粗糙度與刀具磨耗。了解 Alicona FocusX 如何透過非接觸式 3D 光學量測,協助刀具研發、品質管理與加工製程改善。

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使用DIC為半導體產業提供全面性檢驗

在半導體產業中,大多會對晶圓或是封裝後晶片進行熱變形的實驗及驗證,針對其變形量及應變的功能分析,以確保成品品質。而在實際產品驗證上,例如電腦工作時產生熱量,使CPU、記憶體等,因晶片與PCB間膨脹程度的不同,造成硬體的失效。GOM ARAMIS 3D 動態與應變量測系統除了Out of plane、Warpage分析外,同時兼具了In plane方向的量測與應變分析功能,並且在各種關於高度段差、階高設計的樣品上同樣可以進行量測,集所有能力於一身。

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ZEISS 3DScan

塑膠模具試模為什麼總是修不完?ZEISS 3D 掃描與反補正縮短開發週期

塑膠件常見的縮水、翹曲與尺寸偏差,若只靠局部量測與經驗修模,容易拉長 T1、T2、T3 試模循環。本文將說明如何透過 3D 掃描、CAD 比對與偏差色階圖,找出變形趨勢,並將量測數據回饋至模具反補正流程。

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AI Server 量測應用,FARO 移動式三維量測提升大型零組件檢測效率(下)

AI Server 硬體產業正快速發展,機構件設計也朝向更高密度、更複雜、更精密的方向演進。對製造商而言,如何在打樣、試產與量產過程中快速掌握尺寸偏差、組裝問題與品質風險,將成為提升競爭力的重要關鍵。

FARO Arm/FARO ScanArm 移動式三維量測設備,能以可攜式、高機動性與現場量測優勢,協助 AI Server 供應鏈提升大型零組件檢測效率,縮短問題判斷時間,並建立更完整的數據化品質管理流程。

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