ZEISS METROTOM 1
ZEISS METROTOM 1 創新技術
看到很小的細節
得益於高解析度的6MP平板探測器
以高解析度顯現甚至很小的細節。 直徑為150mm的物體可以以65 µm體素大小進行重建。
減少維護
封閉式微焦點X光管
在封閉的發射管內，在製造過程中產生的真空會持續到X光管的整個使用壽命，因此不需要維護。
聰明設計
小巧靈活
總空間需求小於1.6平方米，因此可以非常靈活地放置。 不必為系統後面，上方和右側的服務提供額外的空間。
檢測中小型零件
高度或直徑達165mm以內的塑料組件皆可以輕鬆進行掃描和測量。
最簡單的操作
輕觸一個按鈕即可進行掃描和分析
CT的簡化設置使得操作非常簡單，而操作員的影響卻很小。 這幾乎沒有差錯的餘地，因此對操作人員的培訓也很少。
由GOM Volume Inspect支持的強大解決方案
Volume visualisation
體積可視化
Dimensional Metrology
精密尺寸量測
Trend Analysis and Comparisons
趨勢分析與比較
Defect detection and inspection
缺陷檢測與檢查
ZEISS METROTOM 1 應用
- 對於中小型塑料零件與小型輕金屬零件，可以實現缺陷檢驗、尺寸誤差彩圖比對與全尺寸量測。
應用案例：瓶蓋零件(30mm)
批量掃描、數模比對、尺寸檢測、截面切片檢查、孔隙分析
批量掃描
截面分析
數模比對
全尺寸檢測
應用案例：連接器
數模比對、尺寸檢測、截面切片檢查、缺陷分析
數模比對
截面切片
全尺寸測量
GD&T 幾何公差測量及視覺化
應用案例：鋁鑄件
數模比對、尺寸檢測、截面切片檢查、孔隙分析
數模比對
全尺寸檢測
體積截面切片
孔隙/缺陷檢測
METROTOM全系列
