2026 年

aramis 拉伸測試

PCB 熱變形測試怎麼做?透過 DIC 量測觀察 Warpage、CTE 與高溫變形行為

ZEISS ARAMIS 以 DIC 數位影像相關法(Digital Image Correlation)進行非接觸式全場變形量測,可觀察 PCB、載板與複合材料在受熱過程中的位移、應變與翹曲變化。馬路科技在 ARAMIS 板材熱變形測試應用上,更具備可搭配觀測的加熱艙體,也就是類似烤箱的控溫環境,能協助客戶觀察材料在升溫、保溫與降溫過程中的實際變形行為。

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PCB 板材測試怎麼做?從彎曲、應變到熱變形的 DIC 量測應用

PCB 板材測試怎麼做?從彎曲、應變到熱變形的 DIC 量測應用

DIC(Digital Image Correlation,數位影像相關法)正是用來觀察這類變形行為的重要量測技術。透過非接觸式影像追蹤與全域變形分析,DIC 可協助工程師從整片 PCB 板的彩圖趨勢,觀察彎曲、應變與熱變形過程,而不再只依賴單點應變規或局部量測資料。

ZEISS ARAMIS 3D 變形量測系統是以 DIC 技術為核心,可應用於 PCB 彎曲測試、應變分析、熱變形測試、Warpage 翹曲分析與 CTE 熱膨脹係數分析。根據附件資料,ARAMIS 可透過三角測距原理,將 2D 影像計算為 3D 曲面,視覺化呈現整個被測面的變形趨勢。

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ZEISS × COMPUTEX 2026 馬路科技

ZEISS × COMPUTEX 2026 馬路科技陪你看見 AI 硬體時代的品質新關鍵 

COMPUTEX 2026 聚焦 AI Together,從 AI 運算、機器人、智慧移動到次世代科技,展現台灣科技製造業在全球供應鏈中的關鍵位置。馬路科技從 ZEISS、FARO 量測設備、3D 掃描、逆向工程與工業級 3D 列印角度,解析 AI 硬體背後的製造、檢測與工程驗證趨勢。

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zeiss_aramis_dic

使用DIC為半導體產業提供全面性檢驗

在半導體產業中,大多會對晶圓或是封裝後晶片進行熱變形的實驗及驗證,針對其變形量及應變的功能分析,以確保成品品質。而在實際產品驗證上,例如電腦工作時產生熱量,使CPU、記憶體等,因晶片與PCB間膨脹程度的不同,造成硬體的失效。GOM ARAMIS 3D 動態與應變量測系統除了Out of plane、Warpage分析外,同時兼具了In plane方向的量測與應變分析功能,並且在各種關於高度段差、階高設計的樣品上同樣可以進行量測,集所有能力於一身。

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ZEISS 3DScan

塑膠模具試模為什麼總是修不完?ZEISS 3D 掃描與反補正縮短開發週期

塑膠件常見的縮水、翹曲與尺寸偏差,若只靠局部量測與經驗修模,容易拉長 T1、T2、T3 試模循環。本文將說明如何透過 3D 掃描、CAD 比對與偏差色階圖,找出變形趨勢,並將量測數據回饋至模具反補正流程。

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COMPUTEX 2026

馬路科技帶你看 COMPUTEX 2026 重點: AI 硬體背後的量測與工程趨勢

COMPUTEX 2026 聚焦 AI Together,從 AI 運算、機器人、智慧移動到次世代科技,展現台灣科技製造業在全球供應鏈中的關鍵位置。馬路科技從 ZEISS、FARO 量測設備、3D 掃描、逆向工程與工業級 3D 列印角度,解析 AI 硬體背後的製造、檢測與工程驗證趨勢。

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AI Server 量測應用,FARO 移動式三維量測提升大型零組件檢測效率(下)

AI Server 硬體產業正快速發展,機構件設計也朝向更高密度、更複雜、更精密的方向演進。對製造商而言,如何在打樣、試產與量產過程中快速掌握尺寸偏差、組裝問題與品質風險,將成為提升競爭力的重要關鍵。

FARO Arm/FARO ScanArm 移動式三維量測設備,能以可攜式、高機動性與現場量測優勢,協助 AI Server 供應鏈提升大型零組件檢測效率,縮短問題判斷時間,並建立更完整的數據化品質管理流程。

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AI Server 量測應用,FARO 移動式三維量測提升大型零組件檢測效率

AI Server 量測應用,FARO 移動式三維量測提升大型零組件檢測效率(上)

FARO Arm 多關節式三次元量測設備具備可攜式與高機動性的特色,可依照檢測需求移動至加工現場、產線旁、組裝區或品保區進行即時檢測。 

對 AI Server 機構件製造商而言,這項特色的關鍵價值在於:量測設備可以跟著工件走,而不是每次都必須讓大型工件配合量測設備移動。 

當檢測對象是大型機箱、GPU Tray、水冷分歧管、支架、鈑金件或組裝後的結構件時,工程人員可將 FARO 手持式三維量測設備架設在現場,直接針對工件進行尺寸檢查、幾何量測與 CAD 比對,減少大型工件搬運與等待檢測的時間。 

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