3D檢測技術縮短筆記本電腦的開發效率

現今3C產品講求高效及便利,尤其在筆記型電腦上,更是越輕薄、短小,因此在機構設計上難度也隨之提高,從螺絲鎖付到全卡扣設計,以及克服變形問題等。開發難度的提高,更需要高效的檢測手法來解決筆記型電腦所面臨的開發問題點。

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