半導體可以說是眾多行業中不可或缺的角色，馬路科技提供多樣的光學檢測解決方案
從晶圓、PCB到封裝，所有的驗證到分析，一應俱全
本次特別展出獨家代理蔡司ZEISS 的 DIC 動態量測系統
邀請您一同前往了解
展會資訊
展出項目
ARAMIS DIC 三維光學應變量測
從晶片翹曲到組裝熱變形PCB全系列檢測應用
檢測重點：
✅ 翹曲分析
✅ 熱變形分析
✅ CTE膨脹係數分析
✅ 形變位移
ATOS Q 工業級量測技術
光學翹曲變形檢測應用－ATOS 3D 結構光掃描
檢測重點：
✅ PCB/PCBA 變形檢測
✅ 焊接點位高度確認
✅ PCB與焊接治具組立分析
✅ 焊接元件尺寸確認
ZEISS Metrotom CT 工業電腦斷層掃描
X-Ray 內部缺陷分析與批次檢測應用－系統規格：
‧ 225KV / 50W
‧ Detector 3008*2514
檢測重點：
✅ 電路板內部缺陷
✅ 產品失效分析
✅ 連接器內部檢測
✅ 模組測試前後比對分析
Alicona 奈米級光學量測儀
ALICONA 提供光學量測解決方案，尤其在幾何陡峭，複雜曲面，粗糙度複雜的產品，利用獨特的技術(Focus-Variation)解決各種需求。
－極細小的物件也能看的清晰－
