還在使用一般光學檢測設備嗎？該如何高效又快速的對物件進行檢測呢？
使用 CT 計算機斷層掃描，可穿透物體表面，看見內部缺陷，
由外到內都一目了然，更能批次批量進行檢測，大幅提高效率。
講座資訊
2022.03.23（周三）
14:00－15:00
－將於活動開始前兩天另行發送會議連結－
講座議程
| 光學模組在CT檢測應用 | ||
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光學模組的FA分析
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光學零件尺寸檢測應用 |
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多元鏡頭組裝分析
鏡頭主要區分為塑膠及玻璃兩種，塑膠因為重量較輕，大多使用在電子產品上，而車用鏡頭其為了安全性及耐高溫的特性，大多則會使用強度較高的玻璃鏡頭。隨著車載鏡頭的發展，越來越多的玻璃、塑膠混和(G+P)鏡頭，在內部的組裝難度也隨之提高。
在消費電子方面，隨著手機使用需求越來越高，攝像鏡頭的成像品質也越高，其堆疊的層數也越發多層，在進行疊合時準度就是一大要件。
鏡頭模組中成敗的關鍵，主要是鏡片厚度、配合間隙、鏡片間距，透過 CT 量測技術可以即時確認內部組裝狀態與尺寸，立刻改善問題，且無須對物件進行破壞，實現無損檢測。
小型精密結構件的全尺寸量測
隨著 5G 時代降臨，網路速度的需求也隨之提高了，連接器的傳輸效率就更為重要。因此傳統的連接器逐漸轉型為光通訊連接器，其中最重要的一個零件就是光學鏡頭，在連接器中的鏡片不但小且還有須多內部結構，往往無法正確的進行尺寸分析。透過 CT 量測技術，可以掃描整個內外光學面，在一次的掃描過程中即可確認所有的尺寸，解決小型零件全尺寸量測困難，找到關鍵問題所在，最終確保光學效能與品質。
全尺寸檢測也能快速清晰
揮別全尺寸檢測費時費力的既定印象，透過 X-Ray 射線可穿透物體的特性，結合影像重建技術，快速還原 3D 數位資料，將掃描物件特徵清楚的顯示，同時於軟體中可立即生成報告，所需要的數據都一目了然。
而在ZEISS METROTOM 系列中，有適應各個不同產業需求所使用的工業電腦斷層掃瞄系統，以利各產業在品質檢驗的提升。
使用批次掃描即刻提升檢測效率
在有效的掃瞄範圍內，可一次量測多量多件。以小型塑膠件案例來說：在相同條件下，掃描1件及5件的時間是一樣的，掃描效率立刻提升5倍。且在治具上，無須特殊設計，同時省下治具的製造以及時間成本。
| 掃描件數 | 掃描時間 | 平均1件耗時 |
|---|---|---|
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1件 |
15 mins |
15 mins
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5件 |
15 mins |
3mins |
CT 電腦斷層提升量測應用能力
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