關於Alicona µCMM的10個常見問題和其答案
Alicona µCMM奈米級三次元量測儀基於 Focus Variation 自動變焦技術，該技術完美融合了探針式坐標測量儀和非接觸式表面測量儀的優點。
即使是測量擁有復雜表面尺寸和嚴格公差要求的零部件，該測量設備僅使用一個傳感器就可以很容易獲得這些數據從而進行測量分析。
奈米級三次元量測儀究竟有多精確？
µCMM奈米級三次元量測儀的三維測量鑽頭結果。只需測量相關區域，無需測量整個零件
在測量整個體積過程中，長度測量偏差始終低於E=(0.8+L/600) µm，完全符合ISO 10360國際標準。即使在測量長距離的時候，該設備也一直能夠保持高測量點密度。因此可以實現測量擁有最微小公差的樣品，同時也可以精確確定這些單獨測量值相對於彼此的位置。
這意味著我們無需測量樣品全部，而只需要測量那些相關的表面特性就可以獲得整體三維數據。由此大大縮短了測量時間
如何驗證奈米級三次元量測儀的精度？
µCMM 高級校準工具主要用於驗證距離和形貌偏差
奈米級三次元量測儀操作有多簡單？
µCMM 奈米級三次元量測儀向生產環境中的用戶提供簡便，可視的操作，甚至提供多用戶操作界面。該設備擁有特殊設計的人機工程學控制器，多功能觸屏。根據任務的不同，只顯示操作員需要的信息。如需輸入測量任務，可選擇測量範圍。如需改變測量物鏡，可選擇不同物鏡。於此同時，該設備還擁有不同的測量速度模式，即允許快速粗略定位也可以專注於要測量的零件細節。
µCMM人機工程學控制器擁有包含實時取景的多功能觸屏
奈米級三次元量測儀是否擁有自動更換物鏡功能?
µCMM擁有全自動物鏡更換支架，與傳統的坐標測量儀相比，它具有多個優勢。固定式雜誌盒（通常在探針式三坐標測量儀或多傳感器測量系統中使用）減少了可用的測量數量。使用µCMM，可用的測量體積數據與行程體積數據完全相同。
µCMM人機工程學控制器擁有包含實時取景的多功能觸屏
奈米級三次元量測儀可以測量哪些種類的材料表面？
感謝SmartFlash照明技術，µCMM三坐標測量儀可應用於擁有從磨砂到光滑，高折射率表面的零件。SmartFlash的核心是在垂直掃描的過程中智能調整照明，從而獲得最佳光源。每一個測量點都獲得了最佳光源，從而可以獲得穩固的三維高景深分辨率。這意味著即使是光滑樣品的表面缺陷，比如玻璃，低於0.01µm，也可以準確獲得測量結果。
SmartFlash技術使每個測量點都可以獲得最理想的照明效果。這意味著即使是光滑表面也可以獲得測量結果SmartFlash技術使每個測量點都可以獲得最理想的照明效果。這意味著即使是光滑表面也可以獲得測量結果
我們使用了什麼硬體?
我們的XYZ軸使用市場領導品牌Zerodur Heidenhain微晶玻璃製成的測量尺度，分辨率高達3.9納米。軸的精度與堅固的花崗岩結構和有效的溫度補償相結合，使得該設備也可以在生產環境中使用。此外，帶無磨損驅動（線性驅動）的空氣軸承提高了測量系統的穩定性。此外Alicona µCMM微米級三坐標測量,還可以通過安裝全自動旋轉台實現從3軸擴展到5軸。
如何將奈米級三次元量測儀拓展成5軸測量系統？
我們的高級全自動旋轉工作台通過第4軸和第5軸擴展了3軸系統。因此，無需重新安裝夾鉗，該功能開啟了自動測量的可能性。而且，此功能增加了測量複雜組件上位置的可訪問性。旋轉台可以配備三爪夾鉗，3R或Erowa夾鉗系統。
基於真實三維測量技術，奈米級三次元量測儀µCMM 可從3軸測量系統拓展成5軸測量系統
微米級三坐標測量儀是否可實現全自動測量?
可以，結合軟體Automation Manager自動化管理的自動化接口µCMM可以實現零件的完整自動測量和分析。粗糙度測量和形貌測量的測量程序可以快速，輕鬆地實現自動化。設備管理員事先定義必要的測量程序，工人（例如在生產中）按一下按鈕即可啟動這些測量程序。通過下拉菜單或條形碼掃描儀選擇要測量的程序。諸如CAD CAM之類的界面和接口可根據智能製造生產概念與現有生產和質量管理系統進行聯網和通信。
