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μCMM

奈米級光學三次元

FEATURES
µCMM 奈米級光學三次元

µCMM是第一台純光學CMM機床,用於高精度測量極小的公差。用戶結合了觸覺座標測量技術和光學表面測量技術的優勢,僅使用一個傳感器即可測量組件的尺寸、位置、形狀和粗糙度。光學CMM可以提供相對於彼此的多個光學3D測量結果的高幾何精度,從而可以對大型組件上的小表面細節進行測量,並可以精確地確定這些單獨的測量結果相對於彼此的位置。

可測量表面的範圍包括所有常見的工業材料和複合材料,例如塑料、PCD、CFRP、陶瓷、鉻、矽。一鍵式解決方案實現了簡單的操作、自動化和人體工程學控制元素,例如專門設計的控制器。帶有直線驅動器的空氣軸承可實現無磨損使用以及高精度快速的測量。

直觀的可用性,專為多個用戶而設計

可測量表面的光譜在很大程度上與材料無關,包括從啞光到拋光或鏡面反射的組件,該行業通常使用的所有材料和復合材料。

密集的非接觸式且與材料無關的測量

阿里科納(Alicona)測量系統提供了表面功能以及將坐標測量系統集成到一個系統中的功能。結果,您的質量保證將變得更具成本效益,更易於執行並更有效地交付結果。

無磨損高效使用

所有組件,包括運動軸,均無接觸運行。空氣軸承線性驅動軸可實現無磨損運行以及高精度,快速測量。這使μCMM成為生產中永久使用的理想選擇。
Specification

μCMM 產品規格

µCMM設備規格
量測範圍
310 x 310 x 310 mm
設備尺寸
approx. 960 x 1109 x 2288 mm
設備重量
approx. 1250 kg
工作溫度
+20°C to+25°C
µCMM鏡頭規格
1500A
800A
400A
150A
80A
量測面積[mm]
2.63 x 2.63
1.32 x 1.32
0.66 x 0.66
0.26 x 0.26
0.13 x0.13
點間距離[μm]
1.53
0.76
0.44
0.18
0.09
工作距離[mm]
23.5
17.5
19
11
4.5
最小粗糙度檢測[μm]
0.6
0.15
0.075
0.03
0.015
最小R角檢測[μm]
10
5
3
2
1
µCMM鏡頭規格
1500A
800A
400A
150A
80A
量測面積[mm]
2.63 x 2.63
1.32 x 1.32
0.66 x 0.66
0.26 x 0.26
0.13 x0.13
點間距離[μm]
1.53
0.76
0.44
0.18
0.09
工作距離[mm]
23.5
17.5
19
11
4.5
最小粗糙度檢測[μm]
0.6
0.15
0.075
0.03
0.015
最小R角檢測[μm]
10
5
3
2
1
三維精度(ISO 10360-8)
EUni:Tr:ODS,MPE = (0.8 + L/600) μm| EUniZ:St:ODS,MPE = (0.15 + L/50) µm
Applications
μCMM 應用

µCMM是同類產品中最精確的純光學微坐標測量系統。用戶將觸覺坐標測量技術和光學表面測量的優勢相結合,僅用一個傳感器即可測量組件的尺寸,位置,形狀和粗糙度。現在也可以光學測量大於90°的垂直表面。

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