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現今3C產品講求高效及便利，尤其在筆記型電腦上，更是越輕薄、短小，因此在機構設計上難度也隨之提高，從螺絲鎖付到全卡扣設計，以及克服變形問題等。開發難度的提高，更需要高效的檢測手法來解決筆記型電腦所面臨的開發問題點。